An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing

Alexandre Ney (1) , Patrick Girard (2) , Serge Pravossoudovitch (2) , Arnaud Virazel (2) , Magali Bastian Hage-Hassan (3) , Vincent Gouin (3)

1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
3 INFINEON - SOPHIA - Infineon Technologies France

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan, et al.. An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing. VTS'08: VLSI Test Symposium, May 2008, San Diego, CA, USA, pp.89-94. ⟨lirmm-00281558⟩