Appareillages de mesure de la conductivité thermique des semi-conducteurs - I. généralités ; Méthode des fluxmètres

G. Weill

L'appareillage décrit permet des mesures rapides de la conductivité thermique, à la température ordinaire, de petits échantillons de matériau semi-conducteur. L'éprouvette en expérience joue le rôle de thermomètre différentiel, cette disposition élimine l'effet parasite des résistances thermiques de contact. Les gradients de température sont maintenus très faibles, de manière à réduire les pertes de chaleur. La méthode permet une évaluation expérimentale de ces pertes. L'appareil peut être étalonné de manière à donner des valeurs absolues.

Mots clés: Measurement systems; Thermal conductivity measurement; Semiconductor materials; Instrumentation; Fluxmeters; Calibration

Domaines: Articles anciens

G. Weill. Appareillages de mesure de la conductivité thermique des semi-conducteurs - I. généralités ; Méthode des fluxmètres. J. Phys. Phys. Appl., 1962, 23 (S3), pp.15-20. ⟨10.1051/jphysap:0196200230301500⟩. ⟨jpa-00212856⟩