Imagerie Topologique à Court Terme (ST2I) d’une Structure Bornée à Réponse Longue
Résumé
Les conditions contraignantes du SHM et de certaines applications limitent le nombre de capteurs utilisés, voire imposent d’inspecter des zones masquées par la géométrie de la structure. Il s’avère alors nécessaire d’exploiter les données expérimentales issues des réflexions multiples sur les bords de la structure inspectée. Cette information est composée des premières réflexions d’une part et du champ réverbéré d’autre part. La méthode présentée se focalise sur l’exploitation des premières réflexions en privilégiant les temps courts par application d'une fenêtre exponentielle décroissante. Appliquer ce fenêtrage revient à travailler dans le domaine de Laplace. La méthode s’appuie sur (a) un modèle numérique de la propagation dans le milieu sain et (b) l’étude de la sensibilité aux perturbations de chaque paramètre physique du milieu sain d’un problème aux moindres carrés comparant mesures et simulations. Les paramètres physiques considérés ici, a priori spatialement dépendants ainsi que leurs perturbations, sont la masse volumique et les coefficients d’élasticité d’un milieu anisotrope. La méthode proposée permet de calculer ces sensibilités directement dans le domaine de Laplace. Des expériences numériques sont menées pour évaluer le potentiel de la méthode en terme de localisation et d’identification d’un défaut masqué dans un milieu élastique bidimensionnel borné.