Study of Various PhotoResist for Bosch Process - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03635045 , version 1 (08-04-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03635045 , version 1

Citer

Arnaud Pageau, Garrett Curley, Pascal Tilmant, Francois Vaurette, Dmitri Yarekha. Study of Various PhotoResist for Bosch Process. Euronanolab Dry Etch Expert meeting, Dec 2019, Saclay, France. ⟨hal-03635045⟩
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