Gate-based high fidelity spin readout in a CMOS device - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nature Nanotechnology Année : 2019

Gate-based high fidelity spin readout in a CMOS device

Louis Hutin
  • Fonction : Auteur
Benoit Bertrand
  • Fonction : Auteur
H. Niebojewski
  • Fonction : Auteur
Pierre-André Mortemousque
M. Casse
  • Fonction : Auteur
G. Billiot
  • Fonction : Auteur
Xavier Jehl
  • Fonction : Auteur
Matias Urdampilleta
  • Fonction : Auteur
Y.-M. Niquet
  • Fonction : Auteur
Silvano de Franceschi
Tristan Meunier
Maud Vinet
David Niegemann
  • Fonction : Auteur
Emmanuel Chanrion
Baptiste Jadot
Cameron Spence
  • Fonction : Auteur
Christopher Bäuerle
Sylvain Barraud
  • Fonction : Auteur
Marc Sanquer
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03537321 , version 1 (20-01-2022)

Identifiants

Citer

Louis Hutin, Benoit Bertrand, H. Niebojewski, Pierre-André Mortemousque, M. Casse, et al.. Gate-based high fidelity spin readout in a CMOS device. Nature Nanotechnology, 2019, 14 (8), pp.1-2. ⟨10.1109/DRC52342.2021.9467200⟩. ⟨hal-03537321⟩
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