Bandpass NGD Time-Domain Experimental Test of Double-li Microstrip Circuit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Design & Test Année : 2022

Bandpass NGD Time-Domain Experimental Test of Double-li Microstrip Circuit

Remy Vauche
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Rym Assila Belhadj Mefteh
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Fayrouz Haddad
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Wenceslas Rahajandraibe
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Fayu Wan
Sebastien Lallechere
Glauco Fontgalland
Preeti Thakur
Atul Thakur
Blaise Ravelo

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Sciences de l'ingénieur [physics]
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Soumis le : lundi 20 décembre 2021-02:08:37

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:08

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hal-03494716 , version 1 (20-12-2021)

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Citer

Remy Vauche, Rym Assila Belhadj Mefteh, Fayrouz Haddad, Wenceslas Rahajandraibe, Fayu Wan, et al.. Bandpass NGD Time-Domain Experimental Test of Double-li Microstrip Circuit. IEEE Design & Test, 2022, pp.1-1. ⟨10.1109/MDAT.2021.3103457⟩. ⟨hal-03494716⟩

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