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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2020

Investigation of critical parameters in power supplies components failure due to electric pulse

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Sciences de l'ingénieur [physics]
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Paternité - Pas d'utilisation commerciale

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Citer

L. Curos, T. Dubois, G. Mejecaze, F. Puybaret, B. Plano, et al.. Investigation of critical parameters in power supplies components failure due to electric pulse. Microelectronics Reliability, 2020, 114, pp.113936 -. ⟨10.1016/j.microrel.2020.113936⟩. ⟨hal-03493510⟩

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