Communication Dans Un Congrès
Année : 1993
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https://hal.science/hal-03317746
Soumis le : samedi 7 août 2021-09:47:02
Dernière modification le : vendredi 16 février 2024-15:22:07
Citer
Francois Danneville, Gilles Dambrine, H. Happy, A. Cappy. Influence of the gate leakage current on the noise performance of MESFETs and MODFETs. 1993 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, Jun 1993, Atlanta, United States. pp.373-376 vol.1, ⟨10.1109/mwsym.1993.276800⟩. ⟨hal-03317746⟩
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