A new method for on wafer noise measurement - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques Année : 1993

A new method for on wafer noise measurement

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Francois Danneville  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03317745

Soumis le : samedi 7 août 2021-09:44:12

Dernière modification le : vendredi 16 février 2024-15:22:07

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03317745 , version 1 (07-08-2021)

Identifiants

Citer

Gilles Dambrine, H. Happy, Francois Danneville, A. Cappy. A new method for on wafer noise measurement. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 1993, 41 (3), pp.375-381. ⟨10.1109/22.223734⟩. ⟨hal-03317745⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-TOURS CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE IRBI
22 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More