Secondary ion mass spectrometry imaging of the fixation of 15N-labelled NO in pollen grains - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Microscopy Année : 2000

Secondary ion mass spectrometry imaging of the fixation of 15N-labelled NO in pollen grains

F. Lhuissier
  • Fonction : Auteur
Université de Rouen Normandie
F. Lefebvre
  • Fonction : Auteur
Université de Rouen Normandie
M. Demarty
  • Fonction : Auteur
Université de Rouen Normandie
David Gibouin
Université de Rouen Normandie
CV
M. Thellier
  • Fonction : Auteur
Université de Rouen Normandie
C. Ripoll
Université de Rouen Normandie

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Citer

F. Lhuissier, F. Lefebvre, M. Demarty, David Gibouin, M. Thellier, et al.. Secondary ion mass spectrometry imaging of the fixation of 15N-labelled NO in pollen grains. Journal of Microscopy, 2000, 198 (2), pp.108-115. ⟨10.1046/j.1365-2818.2000.00690.x⟩. ⟨hal-03264631⟩

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