Calibration of lateral force measurements in atomic force microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Review of Scientific Instrument Année : 2008

Calibration of lateral force measurements in atomic force microscopy

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03191005 , version 1 (06-04-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03191005 , version 1

Citer

Hui Xie, Julien Vitard, Sinan Haliyo, Stéphane Régnier, Mehdi Boukallel. Calibration of lateral force measurements in atomic force microscopy. Review of Scientific Instrument, 2008, 79, pp.033708. ⟨hal-03191005⟩
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