MnOx thin film based electrodes: Role of surface point defects and structure towards extreme enhancement in specific capacitance - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Materials Chemistry and Physics Année : 2020

MnOx thin film based electrodes: Role of surface point defects and structure towards extreme enhancement in specific capacitance

Amine Achour
  • Fonction : Auteur
Abdelouadoud Guerra
  • Fonction : Auteur
Fatsah Moulaï
  • Fonction : Auteur
Mohammad Islam
  • Fonction : Auteur
Toufik Hadjersi
Iftikhar Ahmad
Shahid Parvez
  • Fonction : Auteur
Jean- Jacques Pireaux
  • Fonction : Auteur

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03090055 , version 1 (29-12-2020)

Identifiants

Citer

Amine Achour, Abdelouadoud Guerra, Fatsah Moulaï, Mohammad Islam, Toufik Hadjersi, et al.. MnOx thin film based electrodes: Role of surface point defects and structure towards extreme enhancement in specific capacitance. Materials Chemistry and Physics, 2020, 242, pp.122487. ⟨10.1016/j.matchemphys.2019.122487⟩. ⟨hal-03090055⟩
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