High precision measurement of the 32SH electron affinity by laser detachment microscopy

Walid Chaibi; Christian Delsart; Cyril Drag; Christophe Blondel

doi:10.1016/j.jms.2006.05.012

Article Dans Une Revue Journal of Molecular Spectroscopy Année : 2006

High precision measurement of the 32SH electron affinity by laser detachment microscopy

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Walid Chaibi

Fonction : Auteur
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IdHAL : walid-chaibi
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IdRef : 115559876

Laboratoire Aimé Cotton

Christian Delsart

Fonction : Auteur

Laboratoire Aimé Cotton

Cyril Drag

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Laboratoire Aimé Cotton

CV

Christophe Blondel

Fonction : Auteur
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Laboratoire Aimé Cotton

Domaines

Physique Atomique [physics.atom-ph]

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Soumis le : lundi 28 décembre 2020-15:06:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:20

Dates et versions

hal-03089493 , version 1 (28-12-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-03089493 , version 1
DOI : 10.1016/j.jms.2006.05.012

Citer

Walid Chaibi, Christian Delsart, Cyril Drag, Christophe Blondel. High precision measurement of the 32SH electron affinity by laser detachment microscopy. Journal of Molecular Spectroscopy, 2006, 239 (1), pp.11-15. ⟨10.1016/j.jms.2006.05.012⟩. ⟨hal-03089493⟩

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