Multiscale Structural Evolution and Its Relationship to Dielectric Properties of Micro-/Nano-Layer Coextruded PVDF-HFP/PC Films

Jie Wang; Daniel Adami; Bo Lu; Chuntai Liu; Abderrahim Maazouz; Khalid Lamnawar

doi:10.3390/polym12112596

Article Dans Une Revue Polymers Année : 2020

Multiscale Structural Evolution and Its Relationship to Dielectric Properties of Micro-/Nano-Layer Coextruded PVDF-HFP/PC Films

, , , , , (1)

1

Jie Wang

Fonction : Auteur

Daniel Adami

Fonction : Auteur

Bo Lu

Fonction : Auteur

Chuntai Liu

Fonction : Auteur

Abderrahim Maazouz

Fonction : Auteur
PersonId : 859295
IdHAL : abderrahim-maazouz
ORCID : 0000-0002-2961-5872

CV

Khalid Lamnawar

Fonction : Auteur
PersonId : 742164
IdHAL : khalid-lamnawar
ORCID : 0000-0003-4907-0977
IdRef : 125073429

Ingénierie des Matériaux Polymères

CV

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Khalid Lamnawar : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03086851

Soumis le : mardi 22 décembre 2020-22:29:36

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:14

Dates et versions

hal-03086851 , version 1 (22-12-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-03086851 , version 1
DOI : 10.3390/polym12112596
PUBMEDCENTRAL : PMC7694327

Citer

Jie Wang, Daniel Adami, Bo Lu, Chuntai Liu, Abderrahim Maazouz, et al.. Multiscale Structural Evolution and Its Relationship to Dielectric Properties of Micro-/Nano-Layer Coextruded PVDF-HFP/PC Films. Polymers, 2020, 12 (11), pp.2596. ⟨10.3390/polym12112596⟩. ⟨hal-03086851⟩

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