Impact of the Location of Iron Buffer Doping on Trap Signatures in GaN HEMTs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

Impact of the Location of Iron Buffer Doping on Trap Signatures in GaN HEMTs

Khushboo Sharma
  • Fonction : Auteur
Emmanuel Dupouy
  • Fonction : Auteur
Mohamed Bouslama
Raphaël Sommet
Jean-Christophe Nallatamby

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02968583 , version 1 (16-10-2020)

Identifiants

Citer

Khushboo Sharma, Emmanuel Dupouy, Mohamed Bouslama, Raphaël Sommet, Jean-Christophe Nallatamby. Impact of the Location of Iron Buffer Doping on Trap Signatures in GaN HEMTs. 2020 International Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-Wave Circuits (INMMiC), Jul 2020, Cardiff, United Kingdom. pp.1-3, ⟨10.1109/INMMiC46721.2020.9160114⟩. ⟨hal-02968583⟩
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