Soft-Error Vulnerability Estimation Approach Based on the SET Susceptibility of Each Gate

Fábio Batagin Armelin; Lirida Naviner; Roberto D’amore

doi:10.3390/electronics8070749

Article Dans Une Revue Electronics Année : 2019

Soft-Error Vulnerability Estimation Approach Based on the SET Susceptibility of Each Gate

, (1, 2, 3) ,

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2
3

Fábio Batagin Armelin

Fonction : Auteur

Lirida Naviner

Fonction : Auteur
PersonId : 737026
IdHAL : lirida-naviner
ORCID : 0000-0002-6320-4153

Département Communications & Electronique

Secure and Safe Hardware

Institut Polytechnique de Paris

CV

Roberto D’amore

Fonction : Auteur

Domaines

Architectures Matérielles [cs.AR] Electronique

Lirida Naviner : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02941341

Soumis le : jeudi 17 septembre 2020-07:03:23

Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03

Dates et versions

hal-02941341 , version 1 (17-09-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02941341 , version 1
DOI : 10.3390/electronics8070749

Citer

Fábio Batagin Armelin, Lirida Naviner, Roberto D’amore. Soft-Error Vulnerability Estimation Approach Based on the SET Susceptibility of Each Gate. Electronics, 2019, 8 (7), pp.749. ⟨10.3390/electronics8070749⟩. ⟨hal-02941341⟩

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