Abstract : Two-dimensionam transition-metal dichalcogenides (TMDC) layers with direct bandgaps have made a new horizon for pplication in photonics and electroptics. The presence of bandgap causes a significant absorption useful in photovoltaic devices. When these layers are located on a substrate that leads to a frequent optical reflection thus affect the absorption.Typically, SiO2 or Si or their combination as a substrate is used for these monolayers. In this paper, we used a transfer matrix method to study the absorption spectra of TMDC monolayers including MoSe2, WSe2, MoS2 and WS2 with the presence of SiO2/ Si substrate with different thicknesses of SiO2 layer. We found that using the SiO2 layer with a thickness of 90 nm in SiO2/ Si substrate does not change the general behavior of absorption and increases the absorption in some regions of the wavelength range.
Résumé : با (TMDC) لایه هاي دوبعدي ديکالکوجنایدهاي فلزات واسطه
گافهاي نواري مستقیم، افق جدیدي در کاربري این مواد در فوتونیک
و الکترواپتیک ایجاد کرده است. وجود گاف نواري باعث جذب اپتیکی
چشمگیر این لایه ها در دستگاههاي فوتوولتاییک میشود. قرارگیري این
لایه ها روي زیرلایه به علت بازتابهاي متوالی، بر طیف جذب اثر
و یا ترکیب آنها به عنوان Si یا SiO میگذارد. به طور متداول، از 2
زیرلایه براي این تک لایه ها استفاده میشود. در این مقاله با استفاده از
شامل TMDC روش ماتریس انتقال، طیف جذب تک لایههاي
و یا Si یا SiO با حضور زیرلایۀ 2 WS و 2 MoS2،WSe2 ،MoSe2
بررسی شد. SiO با ضخامتهاي مختلف لایۀ 2 SiO2/Si دوتایی
در زیرلایۀ دوتایی به عنوان ضخامت SiO ضخامت 90 نانومتر لایۀ 2
بهینه انتخاب شد؛ چرا که روند کلی جذب را تغییر نمیدهد و باعث
افزایش جذب در بعضی نواحی طول موجی میشود.