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Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Characterization of Bismuth Silicon Oxide Crystals Using Imaging Mueller Ellipsometry

Elmar Slikboer
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Physique des Plasmas
Sang Hyuk Yoo
  • Fonction : Auteur
Olivier Guaitella
Laboratoire de Physique des Plasmas
Ana Sobota
Enric Garcia-Caurel
  • Fonction : Auteur

Domaines

Physique des plasmas [physics.plasm-ph]

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https://hal.science/hal-02593736

Soumis le : vendredi 15 mai 2020-17:34:31

Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-16:18:59

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Dates et versions

hal-02593736 , version 1 (15-05-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02593736 , version 1

Citer

Elmar Slikboer, Sang Hyuk Yoo, Olivier Guaitella, Ana Sobota, Enric Garcia-Caurel. Characterization of Bismuth Silicon Oxide Crystals Using Imaging Mueller Ellipsometry. International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE), Jun 2016, Berlin, Germany. ⟨hal-02593736⟩

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