Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 1998
Louis Hennet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02540748
Soumis le : samedi 11 avril 2020-19:09:48
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:15
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02540748 , version 1
- DOI : 10.1016/s0040-6090(97)01087-0
Citer
Pierre Boher, Michel Luttmann, Jean Louis Stehle, Louis Hennet. Combined characterization of conductive materials by infrared spectroscopic ellipsometry and grazing X-ray reflectance. Thin Solid Films, 1998, 319 (1-2), pp.67-72. ⟨10.1016/s0040-6090(97)01087-0⟩. ⟨hal-02540748⟩
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