Article Dans Une Revue
Electronics Letters
Année : 2007
Sonia Ben Dhia : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02523686
Soumis le : dimanche 29 mars 2020-15:32:07
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22
Citer
A. Boyer, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard. Characterisation of electromagnetic susceptibility of integrated circuits using near-field scan. Electronics Letters, 2007, 43 (1), pp.15. ⟨10.1049/el:20073130⟩. ⟨hal-02523686⟩
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