Proceedings/Recueil Des Communications
Année : 2017
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02519752
Soumis le : jeudi 26 mars 2020-11:43:09
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02519752 , version 1
Citer
N. Labat, F. Marc, H. Fremont, M. Bafleur. Microelectronics Reliability Volumes 76-77, Pages 1-724. 28th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Sep 2017, 2017. ⟨hal-02519752⟩
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