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Proceedings/Recueil Des Communications Année : 2017

Microelectronics Reliability Volumes 76-77, Pages 1-724

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : jeudi 26 mars 2020-11:43:09

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-02519752 , version 1 (26-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02519752 , version 1

Citer

N. Labat, F. Marc, H. Fremont, M. Bafleur. Microelectronics Reliability Volumes 76-77, Pages 1-724. 28th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Sep 2017, 2017. ⟨hal-02519752⟩

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