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Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Évaluation des mécanismes de défaillance et de la fiabilité d’une nouvelle terminaison haute tension : approche expérimentale et modélisation associée

Loïc Théolier
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Isabelle FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02518858

Soumis le : mercredi 25 mars 2020-15:21:53

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02518858 , version 1 (25-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02518858 , version 1

Citer

Loïc Théolier. Évaluation des mécanismes de défaillance et de la fiabilité d’une nouvelle terminaison haute tension : approche expérimentale et modélisation associée. Proceedings of ANADEF 2016, 2016, Seignosse-Hossegor, France. ⟨hal-02518858⟩

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