Microelectronics Reliability Special issue for EuroSime 2018 - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2019

Microelectronics Reliability Special issue for EuroSime 2018

W. Van Driel
  • Fonction : Directeur scientifique
H. Fremont
  • Fonction : Directeur scientifique
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02517386

Soumis le : mardi 24 mars 2020-15:16:51

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02517386 , version 1 (24-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02517386 , version 1

Citer

W. Van Driel, H. Fremont (Dir.). Microelectronics Reliability Special issue for EuroSime 2018. 2019. ⟨hal-02517386⟩

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