Reliability of fine pitch hybrid bonding interconnects - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02517314 , version 1 (24-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02517314 , version 1

Citer

J. Jourdon, S. Moreau, H. Frémont. Reliability of fine pitch hybrid bonding interconnects. 3D & Systems Summit 2019, 2019, Dresden, Germany. ⟨hal-02517314⟩
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