Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02517122
Soumis le : mardi 24 mars 2020-12:29:22
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02517122 , version 1
Citer
Hélène Frémont. Etude de fiabilité en microélectronique : principes généraux et nouvelles approches. Proceedings of Séminaire « Durabilité et fiabilité des panneaux photovoltaïques de diverses technologies en environnements agressifs » UDES Algérie, Dec 2019, Alger, Algérie. ⟨hal-02517122⟩
Collections
19
Consultations
0
Téléchargements