High Frequency Characterization of Nanocomposite LMaterials Based on Simulation and Measurement of Buried Capacitors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

High Frequency Characterization of Nanocomposite LMaterials Based on Simulation and Measurement of Buried Capacitors

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02516482

Soumis le : lundi 23 mars 2020-21:58:49

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:21

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02516482 , version 1 (23-03-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02516482 , version 1

Citer

M. Wade, G. Duchamp, T. Dubois, I. Bord-Majek. High Frequency Characterization of Nanocomposite LMaterials Based on Simulation and Measurement of Buried Capacitors. Proceedings of European Workshop, EuroSime, 2016, 2016, Montpellier, France. ⟨hal-02516482⟩

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