TCAD simulation capabilities towards gate leakage current analysis of advanced AlGaN/GaN HEMT devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02462694 , version 1 (31-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02462694 , version 1

Citer

Kalparupa Mukherjee, Frederic Darracq, Arnaud Curutchet, Nathalie Malbert, Nathalie Labat. TCAD simulation capabilities towards gate leakage current analysis of advanced AlGaN/GaN HEMT devices. ESREF 2017, Sep 2017, Bordeaux, France. ⟨hal-02462694⟩
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