Defect structure of pulsed laser deposited LiNbO3/Al2O3 layers determined by X-ray diffraction reciprocal space mapping

A. Boulle (1) , Laurent Canale (2, 1) , R. Guinebretière (3, 1) , C. Girault-Di Bin (2, 1) , A. Dauger (4, 1)

1 UNILIM - Université de Limoges
2 IRCOM - Institut de Recherche en Communications Optiques et Microondes
3 IRCER-AXE3 - IRCER - Axe 3 : organisation structurale multiéchelle des matériaux
4 SPCTS - Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface

Domaines: Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]; Génie des procédés; Optique / photonique; Energie électrique; Micro et nanotechnologies/Microélectronique

A. Boulle, Laurent Canale, R. Guinebretière, C. Girault-Di Bin, A. Dauger. Defect structure of pulsed laser deposited LiNbO3/Al2O3 layers determined by X-ray diffraction reciprocal space mapping. Thin Solid Films, 2003, 429 (1-2), pp.55-62. ⟨10.1016/S0040-6090(03)00030-0⟩. ⟨hal-02435761⟩