Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Manuel Jose Barragan Asian : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02352381
Soumis le : mercredi 6 novembre 2019-18:35:03
Dernière modification le : vendredi 12 avril 2024-18:32:05
Citer
Amir Zjajo, Manuel J. Barragan, Jose Pineda de Gyvez. BIST Method for Die-Level Process Parameter Variation Monitoring in Analog/Mixed-Signal Integrated Circuits. Design, Automation & Test in Europe Conference, Apr 2007, Nice, France. pp.1-6, ⟨10.1109/DATE.2007.364477⟩. ⟨hal-02352381⟩
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