Influence of deposition rate on the structural properties of plasma-enhanced CVD epitaxial silicon - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Scientific Reports Année : 2017

Dates et versions

hal-02349133 , version 1 (05-11-2019)

Identifiants

Citer

Wanghua Chen, Romain Cariou, Gwenaëlle Hamon, Ronan Léal, Jean-Luc Maurice, et al.. Influence of deposition rate on the structural properties of plasma-enhanced CVD epitaxial silicon. Scientific Reports, 2017, 7 (1), ⟨10.1038/srep43968⟩. ⟨hal-02349133⟩
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