Article Dans Une Revue
Physical Review Applied
Année : 2018
Alexandre Tallaire : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02346269
Soumis le : lundi 4 novembre 2019-22:42:31
Dernière modification le : vendredi 22 mars 2024-16:00:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02346269 , version 1
- DOI : 10.1103/PhysRevApplied.10.044039
Citer
Andrew Horsley, Patrick Appel, Janik Wolters, Jocelyn Achard, Alexandre Tallaire, et al.. Microwave Device Characterization Using a Widefield Diamond Microscope. Physical Review Applied, 2018, 10 (4), ⟨10.1103/PhysRevApplied.10.044039⟩. ⟨hal-02346269⟩
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