Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Frédéric Richardeau : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02342941
Soumis le : vendredi 1 novembre 2019-17:02:00
Dernière modification le : lundi 18 décembre 2023-10:42:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02342941 , version 1
Citer
François Boige, Frédéric Richardeau. Etude de la robustesse et exploitation des défaillances de MOSFETs SiC 1200V en régime extrême de court-circuit. Ecole thématique Fiab-Surf, 2019, labellisée par le CNRS-INSIS. De la physique d'endommagement à la sûreté de fonctionnement des convertisseurs statiques, 17-21 juin 2019, Saint-Pierre d'Oléron, Jun 2019, Saint-Pierre d'Oléron, France. ⟨hal-02342941⟩
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