Reliability Characterization and Modelling of High Speed Ge Photodetectors

F. Sy (1) , Q. Rafhay (1) , Julien Poette (1) , G. Grosa (1) , G. Beylier (1) , P. Grosse (2) , D. Roy (3) , J.-E. Broquin (1)

1 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2 DOPT - Département d'Optronique
3 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]

Domaines: Optique / photonique

F. Sy, Q. Rafhay, Julien Poette, G. Grosa, G. Beylier, et al.. Reliability Characterization and Modelling of High Speed Ge Photodetectors. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2019, pp.1-1. ⟨10.1109/TDMR.2019.2945996⟩. ⟨hal-02321345⟩