Characterizing Ferroelectricity with an Atomic Force Microscopy: An All-Around Technique

Simon Martin (1) , Brice Gautier (1) , Nicolas Baboux (1) , Alexei Gruverman , Adrian Carretero-Genevrier (2, 3) , Marti Gich (4) , Andrés Gómez (5)

1 INL - DE - INL - Dispositifs Electroniques
2 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
3 M2A - Matériaux, MicroCapteurs et Acoustique
4 ICMAB - Institut de Ciència de Materials de Barcelona
5 COPA - Centro para la Optimización y Probabilidad Aplicada, Departamento de Ingeniería Industrial

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]

Simon Martin, Brice Gautier, Nicolas Baboux, Alexei Gruverman, Adrian Carretero-Genevrier, et al.. Characterizing Ferroelectricity with an Atomic Force Microscopy: An All-Around Technique. Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics, pp.173-203, 2019, ⟨10.1007/978-3-030-15612-1_6⟩. ⟨hal-02290033⟩