Article Dans Une Revue
COMPEL: The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering
Année : 2016
Olivier Chadebec : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02277768
Soumis le : mardi 3 septembre 2019-22:04:58
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:23:09
Citer
Nicolas Clément, Jean-Paul Rouger. Electric field distribution and voltage breakdown modeling for any PN junction. COMPEL: The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering, 2016, 35 (1), pp.137--156. ⟨10.1108/COMPEL-12-2014-0330⟩. ⟨hal-02277768⟩
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