On the use of causal feature selection in the context of machine-learning indirect test

Manuel J. Barragan (1) , G. Leger (2) , F. Cilici (1) , Estelle Lauga-Larroze (3) , Sylvain Bourdel (3) , Salvador Mir (1)

1 TIMA - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés
2 IMSE-CNM - Instituto de Microelectrónica de Sevilla
3 RFIC-Lab - Laboratoire de Radio-Fréquence et d'Intégration de Circuits

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Manuel J. Barragan, G. Leger, F. Cilici, Estelle Lauga-Larroze, Sylvain Bourdel, et al.. On the use of causal feature selection in the context of machine-learning indirect test. 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Mar 2019, Florence, France. pp.276-279. ⟨hal-02231655⟩