Learning-Based Reliability Assessment Method for Detection of Permanent Faults in Clockless Circuits - Archive ouverte HAL

Documentation
Français (FR)

Anglais (EN)

Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Learning-Based Reliability Assessment Method for Detection of Permanent Faults in Clockless Circuits

(1) , (1) , (1) , (1)

1

R. Aquino Guazzelli

Fonction : Auteur

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Matheus Garay Trindade

Fonction : Auteur

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Laurent Fesquet

Fonction : Auteur
PersonId : 14246
IdHAL : laurent-fesquet
ORCID : 0000-0002-6045-8510
IdRef : 081162073

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Rodrigo Possamai Bastos

Fonction : Auteur
PersonId : 735900
IdHAL : rpbastos
ORCID : 0000-0002-9964-0424
IdRef : 147702321

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Laurence BEN TITO : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02165113

Soumis le : mardi 25 juin 2019-15:41:55

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:05:03

Dates et versions

hal-02165113 , version 1 (25-06-2019)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

HAL Id : hal-02165113 , version 1

Citer

R. Aquino Guazzelli, Matheus Garay Trindade, Laurent Fesquet, Rodrigo Possamai Bastos. Learning-Based Reliability Assessment Method for Detection of Permanent Faults in Clockless Circuits. 30th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2019), Aug 2019, Toulouse, France. ⟨hal-02165113⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UGA CNRS TIMA

46 Consultations

0 Téléchargements

Partager