Yield Recovery of mm-Wave Power Amplifiers using Variable Decoupling Cells and One-Shot Statistical Calibration

F. Cilici (1) , Manuel J. Barragan (1) , Salvador Mir (1) , Estelle Lauga-Larroze (2) , Sylvain Bourdel (2) , G. Leger (3)

1 TIMA - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés
2 RFIC-Lab - Laboratoire de Radio-Fréquence et d'Intégration de Circuits
3 IMSE-CNM - Instituto de Microelectrónica de Sevilla

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

F. Cilici, Manuel J. Barragan, Salvador Mir, Estelle Lauga-Larroze, Sylvain Bourdel, et al.. Yield Recovery of mm-Wave Power Amplifiers using Variable Decoupling Cells and One-Shot Statistical Calibration. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2019), May 2019, Sapporo, Japan. pp.1-5. ⟨hal-02128847⟩