Characterization Method for Integrated Magnetic Devices at Lower Frequencies (up to 110 MHz) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications Année : 2019

Characterization Method for Integrated Magnetic Devices at Lower Frequencies (up to 110 MHz)

S. Capraro
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 959957
D. Pietroy
J. Chatelon
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02128163 , version 1 (14-05-2019)

Identifiants

Citer

D. Oumar, M. Boukhari, M. Taha, S. Capraro, D. Pietroy, et al.. Characterization Method for Integrated Magnetic Devices at Lower Frequencies (up to 110 MHz). Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2019, 35 (2), pp.245-252. ⟨10.1007/s10836-019-05790-3⟩. ⟨hal-02128163⟩
14 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More