Laser Testing for Radiation Hardness Assurance, with a Particular Focus on the Test of Complex ICs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Laser Testing for Radiation Hardness Assurance, with a Particular Focus on the Test of Complex ICs

Vincent Pouget
Institut d’Electronique et des Systèmes
Radiations et composants

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

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https://hal.science/hal-02088950

Soumis le : mercredi 3 avril 2019-12:28:08

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02088950 , version 1 (03-04-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02088950 , version 1

Citer

Vincent Pouget. Laser Testing for Radiation Hardness Assurance, with a Particular Focus on the Test of Complex ICs. RAD−TEST (Radiation Testing Workshop), Jun 2017, Saint Petersburg, Russia. ⟨hal-02088950⟩

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