Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2013
Hanako Okuno : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02071123
Soumis le : lundi 18 mars 2019-13:46:26
Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:08:06
Citer
Y. Martin, J.-M. Zuo, V. Favre-Nicolin, J.-L. Rouvière. Measuring Lattice Parameters and Local Rotation using Convergent Beam Electron Diffraction: One Step Further. Microscopy and Microanalysis, 2013, 19 (S2), pp.710-711. ⟨10.1017/S1431927613005540⟩. ⟨hal-02071123⟩
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