Measuring Lattice Parameters and Local Rotation using Convergent Beam Electron Diffraction: One Step Further - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2013

Dates et versions

hal-02071123 , version 1 (18-03-2019)

Identifiants

Citer

Y. Martin, J.-M. Zuo, V. Favre-Nicolin, J.-L. Rouvière. Measuring Lattice Parameters and Local Rotation using Convergent Beam Electron Diffraction: One Step Further. Microscopy and Microanalysis, 2013, 19 (S2), pp.710-711. ⟨10.1017/S1431927613005540⟩. ⟨hal-02071123⟩
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