New tools for advance in thermal nanometrology using scanning thermal microscopy (SThM) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02024090 , version 1 (18-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02024090 , version 1

Citer

Eloïse Guen, Pierre-Olivier Chapuis, David Renahy, Pascal Vincent, Stéphane Lefèvre, et al.. New tools for advance in thermal nanometrology using scanning thermal microscopy (SThM). International Microscopy Congress (IMC) 19, Sep 2018, Sydney, Australia. ⟨hal-02024090⟩
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