Investigation of a topography-free composite sample using a combined scanning thermal microscopy/scanning electron microscopy instrument - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02024073 , version 1 (18-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02024073 , version 1

Citer

S. Gomès, E. Guen, D. Renahy, S. Arpiainen, J. Weaver, et al.. Investigation of a topography-free composite sample using a combined scanning thermal microscopy/scanning electron microscopy instrument. E-MRS May 2017, Altech, May 2017, Strasbourg, France. ⟨hal-02024073⟩
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