Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
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https://hal.science/hal-02016977
Soumis le : mercredi 13 février 2019-00:35:40
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02016977 , version 1
Citer
Didier Chaussende, L. Parent-Bert, Yj Shin, Thierry Ouisse, T. Yoshikawa. Effect of aluminum during the high temperature solution growth of Si-face 4H-SiC. 16th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Oct 2015, Giardini Naxos, Italy. ⟨hal-02016977⟩
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