Metal oxide semiconductor interface and transmission electron microscopy characterization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2018
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02009675 , version 1 (06-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02009675 , version 1

Citer

Daniel Araujo, Julien Pernot. Metal oxide semiconductor interface and transmission electron microscopy characterization. Satoshi Koizumi; Hitoshi Umezawa; Julien Pernot; Mariko Suzuki. Power Electronics Device Applications of Diamond Semiconductors, Woodhead Publishing, 2018. ⟨hal-02009675⟩

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