New Insights into Dielectric Nanocomposites by EFM Imaging and Spectroscopy

R. Arinero (1, 2) , D. El Khoury (1, 2) , J. Castellon (1, 3)

1 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
2 GEM - Groupe énergie et matériaux
3 GEM - Groupe d'économie mondiale

Domaines: Electronique

R. Arinero, D. El Khoury, J. Castellon. New Insights into Dielectric Nanocomposites by EFM Imaging and Spectroscopy. IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference NMDC 2018, on-line proceedings, 2018, Portland, United States. ⟨hal-02007254⟩