Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Martien den Hertog : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02001714
Soumis le : jeudi 31 janvier 2019-12:21:32
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:56:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02001714 , version 1
Citer
M. den Hertog. In-situ biasing of semiconducting NWs in transmission electron microscopy: doping quantification and contact formation. JMC Conference, Aug 2018, Grenoble, France. ⟨hal-02001714⟩
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