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Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Transmission electron microscopy combined with in-situ biasing of semiconducting NWs for the study of dopants, surface charges and metal contacts

M. den Hertog
Matériaux, Rayonnements, Structure

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Martien den Hertog  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02001710

Soumis le : jeudi 31 janvier 2019-12:20:05

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:20:57

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02001710 , version 1 (31-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02001710 , version 1

Citer

M. den Hertog. Transmission electron microscopy combined with in-situ biasing of semiconducting NWs for the study of dopants, surface charges and metal contacts. Inauguration TEMPOS (Transmission Electron Microscopy at Palaiseau Orsay Saclay), Dec 2018, Orsay, France. ⟨hal-02001710⟩

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