Diffraction/Scattering Computed Tomography for 3D characterization of multi-phase polycrystalline and disordered materials - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Diffraction/Scattering Computed Tomography for 3D characterization of multi-phase polycrystalline and disordered materials

Domaines

Cristallographie Matériaux Matière Condensée [cond-mat]

Jean-Louis Hodeau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02000622

Soumis le : mercredi 30 janvier 2019-16:45:58

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:16:29

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02000622 , version 1 (30-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02000622 , version 1

Citer

Jean-Louis Hodeau, Michelle Alvarez-Murga, Pierre Bleuet. Diffraction/Scattering Computed Tomography for 3D characterization of multi-phase polycrystalline and disordered materials. C−MAC Days, Nov 2015, Grenoble, France. ⟨hal-02000622⟩

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