A body built-in cell for detecting transient faults and dynamically biasing subcircuits of integrated systems - Archive ouverte HAL

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Communication Dans Un Congrès Année : 2018

A body built-in cell for detecting transient faults and dynamically biasing subcircuits of integrated systems

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Thiago Ferreira de Paiva Leite

Fonction : Auteur

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Laurent Fesquet

Fonction : Auteur
PersonId : 14246
IdHAL : laurent-fesquet
ORCID : 0000-0002-6045-8510
IdRef : 081162073

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Rodrigo Possamai Bastos

Fonction : Auteur
PersonId : 735900
IdHAL : rpbastos
ORCID : 0000-0002-9964-0424
IdRef : 147702321

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Laurence BEN TITO : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01986346

Soumis le : vendredi 18 janvier 2019-17:00:14

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:17:56

Dates et versions

hal-01986346 , version 1 (18-01-2019)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

HAL Id : hal-01986346 , version 1

Citer

Thiago Ferreira de Paiva Leite, Laurent Fesquet, Rodrigo Possamai Bastos. A body built-in cell for detecting transient faults and dynamically biasing subcircuits of integrated systems. European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF'2018), Oct 2018, Aalborg, Denmark. ⟨hal-01986346⟩

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